Estación de control de calidad por visión artificial para un centro de manufactura integrada por computador (CIM) [recurso electronico] / Gabriel Mauricio Zambrano Rey ...[et al].

Contributor(s): Material type: ArticlePublication details: Bogotá : Pontificia Universidad Javeriana, 2007.Description: 33-56 pISSN:
  • 0123-2126
Subject(s): Genre/Form: DDC classification:
  • 620 22
LOC classification:
  • TA7 E792 2007
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Recurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.