Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos / autor: Marta Beatriz Infante Abreu ; tutores: Prof. Tit., Ing. Mercedes Delgado Fernández, Prof. Tit., Ing. Antonio Díaz Batista.

By: Contributor(s): Material type: TextPublisher: La Habana : Editorial Universitaria, 2015Description: 1 recurso en línea (vi, 142 páginas) : gráficos, tablasContent type:
  • texto
Media type:
  • computadora
Carrier type:
  • recurso en línea
ISBN:
  • 9789591628671 (e book)
Subject(s): Genre/Form: DDC classification:
  • 658.5 23
LOC classification:
  • T56 I431 2015
Online resources: Dissertation note: Tesis Doctor en Ciencias Técnicas Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría" 2013.
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Tesis Doctor en Ciencias Técnicas Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría" 2013.

Contiene bibliografía.

Descripción basada en recurso en línea; Título de la página del título en PDF (e-libro, visto March 12, 2015).

Recurso electronico. Santa Fe, Arg. : e-libro, 2016. Disponible via World Wide Web. El acceso puede ser limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.