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100 1 _aInfante Abreu, Marta Beatriz.
245 1 0 _aModelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
_cautor: Marta Beatriz Infante Abreu ; tutores: Prof. Tit., Ing. Mercedes Delgado Fernández, Prof. Tit., Ing. Antonio Díaz Batista.
264 1 _aLa Habana :
_bEditorial Universitaria,
_c2015.
300 _a1 recurso en línea (vi, 142 páginas) :
_bgráficos, tablas
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502 _aTesis
_bDoctor en Ciencias Técnicas
_cInstituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría"
_d2013.
504 _aContiene bibliografía.
588 _aDescripción basada en recurso en línea; Título de la página del título en PDF (e-libro, visto March 12, 2015).
590 _aRecurso electronico. Santa Fe, Arg. : e-libro, 2016. Disponible via World Wide Web. El acceso puede ser limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.
650 0 _aIndustrial engineering.
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655 4 _aLibros electrónicos.
700 1 _aDelgado Fernández, Mercedes,
_etutor.
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